Комплект типового учебного оборудования "Основы электронной техники" ОЭТ1-С-К

Техническое описание

Потребляемая мощность, В·А, не более  200
Электропитание: - от однофазной сети переменного тока с рабочим нулевым и защитным проводниками напряжением, В - частота, Гц 220 ± 2250 ± 0,5
Класс защиты от поражения электрическим током  I
Габаритные размеры, мм, не более - длина (по фронту) - ширина (ортогонально фронту) - высота 2х9208501400
Масса, кг, не более 80
Количество человек, которое одновременно и активно может работать на комплекте 2

Комплектность

• Блок генераторов напряжений с наборным полем – 1 шт.
• Однофазный источник питания – 1 шт.
• Блок испытания цифровых устройств – 1 шт.
• Блок мультиметров (2 мультиметра) – 1 шт.
• Набор миниблоков «Основы цифровой техники» – 1 шт.
• Набор миниблоков «Основы цифровой техники» – 1 шт.
• Набор миниблоков "Аналоговая электроника - Электрические компоненты" – 1 шт.
• Набор миниблоков "Аналоговая электроника - Электронные компоненты" – 1 шт.
• Лабораторный стол – 1 шт.
• Лабораторный стол с двухсекционным контейнером и одноуровневой рамой – 1 шт.
• Осциллограф двухканальный – 1 шт.
• Мультиметр Mastech MY60Т (UT 53) – 1 шт.
• Ноутбук – 1 шт.
• Набор миниблоков «Основы цифровой техники» – 1 шт.
• Набор миниблоков "Микроконтроллеры" – 1 шт.
• Набор аксессуаров для комплекта ОЭТ1-С-К – 1 шт.

Лабораторные работы

Основы аналоговой электроники 

1. Полупроводниковые приборы. 
1.1. Исследование характеристик полупроводниковых диодов на постоянном и переменном токах. 
1.2. Определение основных характеристик стабилитрона и исследование параметрического стабилизатора напряжения. 
1.3. Экспериментальное снятие вольтамперной характеристики светодиода. 
1.4. Исследование диода с переменной ёмкостью (варикапа). 
1.5. Испытание p-n переходов биполярного транзистора и снятие его выходных характеристик с помощью осциллографа. 
1.6. Снятие статических характеристик транзистора на постоянном токе. 
1.7. Выбор рабочей точки биполярного транзистора и ознакомление с режимами усиления переменного напряжения классов A, B, AB и D. 
1.8. Снятие статических характеристик полевого транзистора с p-n переходом. 
1.9. Снятие статических характеристик полевого транзистора с изолированным затвором и индуцированным каналом. 
1.10. Экспериментальное определение основных характеристик тиристоров. 
1.11. Экспериментальное определение основных характеристик и параметров оптопар. 
2. Электронные цепи и микросхемотехника. 
2.1. Сравнительное исследование одиночных усилительных каскадов на биполярных транзисторах. 
2.2. Исследование усилительных каскадов на полевых транзисторах. 
2.3. Исследование двухкаскадного транзисторного усилителя. 
2.4. Исследование двухтактного усилителя мощности на биполярных транзисторах. 
2.5. Исследование основных схем включения операционного усилителя. 
2.6. Снятие частотных характеристик операционного усилителя. 
2.7. Исследование схем суммирования, интегрирования и дифференцирования на операционном усилителе. 
2.8. Экспериментальное определение характеристик RC-фильтров на операционном усилителе. 
2.9. Исследование простейшего логарифмирующего преобразователя на операционном усилителе. 
2.10. Исследование генератора синусоидальных колебаний на операционном усилителе. 
2.11. Знакомство с принципом действия триггера Шмидта и релаксационных генераторов на операционном усилителе. 
2.12. Знакомство с работой RS-триггера, мультивибратора и одновибратора на транзисторах. 
2.13. Исследование аналоговых интегральных компараторов и цепей с ними. 
2.14. Исследование аналогового таймера на интегральной микросхеме в автоколебательном и ждущем режимах. 
2.15. Исследование генератора напряжений специальной формы (функционального генератора) на интегральной микросхеме. 
3. Стабилизаторы и вторичные источники питания. 
3.1. Исследование однополупериодной и мостовой схем выпрямления. 
3.2. Исследование трёхфазной мостовой схемы выпрямления и сглаживающих фильтров. 
3.3. Знакомство с принципом построения управляемых выпрямителей и тиристорных регуляторов с фазовым управлением. 
3.4. Исследование компенсационных стабилизаторов напряжения и тока. 
3.5. Испытание основных схем включения линейного интегрального стабилизатора напряжения. 
3.6. Знакомство с принципом действия широтно-импульсного преобразователя постоянного напряжения. 
3.7. Исследование интегрального импульсного преобразователя-стабилизатора напряжения с частотно-импульсной модуляцией. 

Основы цифровой электроники 

1. Тестирование базовых логических элементов. 
2. Сборка и тестирование простейших комбинационных узлов цифровых устройств. 
2.1. Комбинационный узел на основе базовых логических элементов для реализации произвольной логической функции. 
2.2. Комбинационные узлы на основе базовых логических элементов для экспериментального подтверждения законов алгебры логики. 
2.3. Одноразрядные полусумматор и сумматор. 
2.4. Преобразователь кода и дешифратор. 
2.5. Мультиплексор и демультиплексор. 
3. Сборка и тестирование последовательностных узлов цифровых устройств. 
3.1. Триггеры. 
3.2. Счетчики. 
3.3. Регистры. 
4. Сборка и тестирование цифро-аналоговых преобразователей. 
4.1. Цифро-аналоговый преобразователь с выходом по току. 
4.2. Цифро-аналоговый преобразователь с выходом по напряжению. 
4.3. Схемы сравнения кодов. 
4.4. Широтно-импульсный модулятор. 
5. Сборка и тестирование аналого-цифровых преобразователей. 
5.1. Аналоговый компаратор. 
5.2. Аналого-цифровой преобразователь развертывающего преобразования. 
5.3. Аналого-цифровой преобразователь следящего преобразования. 
5.4. Аналого-цифровой преобразователь последовательного приближения. 
6. Сборка и тестирование одновибраторов и мультивибраторов. 
6.1. Тестирование микросхемы К155АГ3 в режиме одновибратора и мультивибратора. 
6.2. Тестирование таймера в режиме одновибратора и мультивибратора. 
7. Сборка и тестирование ОЗУ и ПЗУ. 
8. Сборка и тестирование схемы контроля четности. 
9. Исследование схемотехники логических элементов. 
9.1. Логический элемент 2И-НЕ. 
9.2. Логический элемент 2И-НЕ с открытым коллектором. 
9.3. Логический элемент НЕ. 

Основы микропроцессорной техники 

1. Изучение базовых возможностей оборудования и среды программирования. 
1.1. Изучение программной оболочки. 
2. Программирование таймеров микроконтроллера. 
2.1. Формирование выдержки времени с помощью таймера. 
2.2. Формирование сигнала заданной частоты. 
2.3. Определение длительности внешних сигналов с помощью таймеров. 
2.4. Изучение счетчика с программируемым коэффициентом деления на базе таймера. 
2.5. Использование прерываний при программировании микроконтроллера. 
2.6. Программирование АЦП микроконтроллера. 
2.7. Изучение ЦАП на базе ШИМ-сигналов микроконтроллера. 
3. Передача сигналов по последовательным каналам связи. 
3.1. Передача данных с использованием канала SPI. 
3.2. Передача данных с использованием канала USART. 
4. Применение микроконтроллера в прикладных задачах. 
4.1. Измерение интервалов времени (секундомер). 
4.2. Измерение температуры (термометр).